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新產(chǎn)品Olympus手持式XRF無(wú)損光譜測(cè)金儀
  • 發(fā)布日期:2016-04-14      瀏覽次數(shù):1283
    • Olympus手持式XRF無(wú)損光譜測(cè)金儀

      DELTA系列手持式分析儀的出現(xiàn),使既強(qiáng)大又靈活的X射線熒光光譜測(cè)定法得以應(yīng)用到野外的檢測(cè)分析中。這款堅(jiān)固耐用、超級(jí)便攜的分析儀可以進(jìn)行7天24小時(shí)不停歇檢測(cè),具有極快的檢測(cè)速度,檢測(cè)人員不僅每天可多檢測(cè)數(shù)百件產(chǎn)品,而且還會(huì)對(duì)分析結(jié)果充滿信心。DELTA系列分析儀配備有強(qiáng)大的袖珍X射線管、Si-PIN探測(cè)器或硅漂移探測(cè)器(SDD)、過(guò)濾器及多光束優(yōu)化功能,從而可將XRF的分析性能發(fā)揮到*。DELTA分析儀的實(shí)際整體價(jià)值體現(xiàn)在如下方面:它可在現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)中幾乎不依靠遠(yuǎn)離檢測(cè)環(huán)境的實(shí)驗(yàn)測(cè)試,即刻做出正確的決策。50 kV的DELTA分析儀是檢測(cè)銀(Ag)、銻(Sb)、碲(Te)、鋇(Ba)及稀土元素的理想工具。

      礦產(chǎn)勘探
      投資商在勘探應(yīng)用上的平均(ROI)時(shí)間一般為6個(gè)月。不同項(xiàng)目的時(shí)間會(huì)各不相同。Olympus分析儀具有以下性能:
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      在獲得資產(chǎn)和達(dá)成交易的過(guò)程中,幫助用戶做出適當(dāng)審慎的決定。
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      在早期的地區(qū)勘察和繪制地圖階段,可對(duì)巖石、碎片、土壤、沉積物等樣本進(jìn)行化學(xué)成份的定性分析。
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      在勘探早期的轉(zhuǎn)移地帶性土壤和沉積物,犁地及挖溝的幾個(gè)階段中,采集定量性數(shù)據(jù)。
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      即時(shí)辨別礦化趨向及異?,F(xiàn)象,定義鉆孔目標(biāo),擴(kuò)展土壤樣本的勘察邊界。
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      實(shí)時(shí)調(diào)整采樣和繪圖項(xiàng)目,以*方式使用勘探預(yù)算經(jīng)費(fèi)。
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      對(duì)樣本進(jìn)行預(yù)篩選,以zui大程度地提高在現(xiàn)場(chǎng)以外的實(shí)驗(yàn)檢測(cè)的效率。
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      在開(kāi)發(fā)前途的地區(qū)提高采樣的密度。
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      在鉆孔階段從土地中取出樣本時(shí),可以對(duì)空心、RAB、RC (反循環(huán)鉆進(jìn)樣本)和鉆石芯等樣本進(jìn)行分析。
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      在現(xiàn)場(chǎng)對(duì)鑭(La)、鈰(Ce)、鐠(Pr)和釹(Nd)等稀土元素,以及釔(Y)、釷(Th)和鈮(Nb)等探途元素進(jìn)行定量檢測(cè)。

      采礦及冶金處理
      便攜式XRF分析儀可在現(xiàn)場(chǎng)即時(shí)得到地球化學(xué)分析的結(jié)果,從而極大地提高了生產(chǎn)力。工作人員可以根據(jù)分析結(jié)果在現(xiàn)場(chǎng)立即做出決策。
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      在露天礦場(chǎng)對(duì)鉆孔樣本進(jìn)行即時(shí)篩檢,減少了對(duì)采礦實(shí)驗(yàn)的依賴,從而在搬運(yùn)礦石/廢料方面提高了效率。
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      對(duì)儲(chǔ)礦堆的現(xiàn)場(chǎng)分析有助于為工廠迅速配料和給料。
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      對(duì)于進(jìn)料、精礦及尾料的實(shí)時(shí)分析,使得在處理廠內(nèi)就可以對(duì)材料的配量隨時(shí)進(jìn)行調(diào)整。
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      在某些環(huán)境中,通過(guò)制定使用DELTA便攜式XRF分析儀的采樣和分析方法,可以提高對(duì)地下礦石進(jìn)行級(jí)別控制的能力。在世界上眾多的地下礦場(chǎng)中,Olympus的XRF分析儀每天都在幫助礦產(chǎn)勘探人員做出正確的決定。
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      在礦場(chǎng)應(yīng)用中,通常需要對(duì)具體的樣本和基質(zhì)進(jìn)行特別校準(zhǔn)。DELTA分析儀使用多種校準(zhǔn)模型可以極為方便地進(jìn)行設(shè)置和操作,從而可保證在實(shí)際檢測(cè)分析過(guò)程中發(fā)揮出*性能,甚至在富于挑戰(zhàn)性的輕元素(鎂、鋁、硅)分析中,也能獲得的數(shù)據(jù)。

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